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Sibress präsentiert neues Mikroskop für Walzen und Druckplatten
Mittwoch, 13. Mai 2015, Produkte und Innovationen

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Das Starnberger Unternehmen Sibress, Hersteller von Mess- und Analysesystemen zur Qualitätssicherung im Flexo- und Verpackungsdruck, hat mit dem SibScope-Mikroskop und der Messsoftware SibView zwei neue Produkte auf den Markt gebracht. Das SibScope soll Objekte wie Aniloxwalzen, Gravur- und Flexodruckplatten mit höchster Bildqualität untersuchen können. Bei maximaler Vergrößerung werden Objekte mit einer Größe von 97 µm mit der 80x-Optik bildschirmfüllend dargestellt (bei 60 cm Bildschirmdiagonale). Die Innovation lässt sich sowohl auf runden als auch auf zylindrischen (ab 6 cm Durchmesser) und planen Flächen einsetzen.

Bei der Messung werden die Werte sofort über ein speziell für das Mikroskop konzipiertes Interface in die mitgelieferte Software SibView übertragen. Das Programm zeigt die jeweils gewählte planachromatische Optik vollautomatisch an. Für jede Optik werden die in der Software hinterlegten Kalibrierungsparameter automatisch angewählt und Messungen korrekt angezeigt.

Die Kombination von SibView mit der bereits bewährten Sibress Versatile@Flex-Software soll das neue Mikroskop zu einer idealen Lösung für Flexodruckbetriebe mit eigener Repro machen, die sowohl ihre Aniloxwalzen als auch ihre Flexoplatten analysieren wollen. Darüber hinaus eignet sich SibScope durch seine optischen Filter auch für Gravurbetriebe oder zur Untersuchung von gedruckten Leiterplattenstrukturen.

Das SibScope von Sibress
Das SibScope von Sibress